干擾效應(yīng)按其性質(zhì)和產(chǎn)生的原因，可以分為4類：化學干擾、電離干擾、物理干擾和光譜干擾。

1、化學干擾

化學干擾與被測元素本身的性質(zhì)和在火焰中引起的化學反應(yīng)有關(guān)。產(chǎn)生化學干擾的主要原因是由于被測元素不能全部由它的化合物中解離出來，從而使參與銳線吸收的基態(tài)原子數(shù)目減少，而影響測定結(jié)果的準確性。由于產(chǎn)生化學干擾的因素多種多樣，消除干擾的方法要是具體情況而不同，常用以下方法：

1. 改變火焰溫度

   對于生成難熔、難解離化合物的干擾，可以通過改變火焰的種類、提高火焰的溫度來消除。如在空氣-乙炔火焰的PO₄^3-對該的測定有干擾，當改用氧化二氮-乙炔火焰后，提高火焰溫度，可消除此類干擾。

2. 加入釋放劑：

   向試樣中加入一種試劑，使干擾元素與之生成更穩(wěn)定、更難解離的化合物，而將待測元素從其與干擾元素生成的化合物中釋放出來。如測Mg²⁺時鋁鹽會與鎂生成MgAl₂O₄難熔晶體，使鎂難于原子化而干擾測定。若在試液中加入釋放劑SrCl2,可與鋁結(jié)合成穩(wěn)定的SrAl₂O₄而將鎂釋放出來。磷酸根會與鈣生成難解離化合物而干擾鈣的測定，若加入釋放劑LaCl₃,則由于生成更難離解的LaPO₄而將該釋放出來。

3. 加入保護絡(luò)合劑：

   保護絡(luò)合劑可與待測元素生成穩(wěn)定的絡(luò)合物，而是待測元素不再與干擾元素生成難解離的化合物而消除干擾。如PO₄^3-干擾鈣的測定，當加入絡(luò)合劑EDTA后，鈣與EDTA生成穩(wěn)定的鰲合物，而消除PO₄^3-的干擾。

4. 加入緩沖劑

   加入緩沖劑即向試樣中加入過量的干擾成分，使干擾趨于穩(wěn)定狀態(tài)，此含干擾成分的試劑稱為緩沖劑。如用氧化二氮-乙炔測定鈦時，鋁有干擾，難以獲準結(jié)果，向試樣中加入鋁鹽使鋁的濃度達到200ug/ml時，鋁對鈦的干擾就不再隨溶液中鋁含量的變化而改變，從而可以準確測定鈦。但這種方法不很理想，它會大大降低測定靈敏度。

2、電離干擾

    是指待測元素在火焰中吸收能量后，除進行原子化外，還是部分原子電離，從而降低了火焰中基態(tài)原子的濃度,使待測元素的吸光度降低，造成結(jié)果偏低。火焰溫度愈高，電離干擾越顯著。當分析電離電位較低的元素（如Be、Sr、Ba、Al）,為抑制電離干擾，出采用降低火焰溫度的方法外，還可以向試液中加入消電離劑，如1%CsCl(或KCl、RbCl)溶液，因CsCl在火焰中極易電離產(chǎn)生高的電子云密度，此高電子云密度可以只待測元素的電離而除去干擾。

3、物理干擾

    物理干擾是指試樣在轉(zhuǎn)移、蒸發(fā)和原子化的過程中，由于物理的特性（如粘度、表面張力、密度等）的變化引起吸收強度下降的效應(yīng)。采用可調(diào)式霧化器通過改變進樣量的大小、采用標準加入法（配置與被測樣品相似組成的標準樣品）或稀釋來消除物理干擾。

4、光譜干擾

    光譜干擾包括譜線重疊、光譜通帶內(nèi)存在吸收線、原子化池內(nèi)的直流發(fā)射、分子吸收、光散射等。當采用銳性光源和交流調(diào)制技術(shù)時，前三種因素一般可以不予考慮，主要考慮分子吸收和光散射，它們是形成光譜背景干擾的主要因素：

• 分子吸收是指在原子化過程中生成的分子對輻射的吸收，分子吸收是帶狀光譜，會在一定波長范圍內(nèi)形成干擾。

• 光散射是在原子化過程中產(chǎn)生的微小固體顆粒使光產(chǎn)生散射，造成透光度減小，吸收度增加。